質保3年只換不修,廠家長沙實了個驗儀器制造有限公司。
本校準方法用于伯樂(Bio-Rad)Gene Pulser Xcell 電穿孔儀(含主機、脈沖/電容擴展模塊、ShockPod 電擊腔及多規格電極杯)的出廠驗收、年度計量、季度核驗與日常快速核查。目標是驗證與調整電壓幅值、脈沖時間基準、波形完整性、時間常數(指數衰減)、方波占空與平頂穩定性、并聯電阻/等效輸出阻抗、能量投送一致性、自動泄放與聯鎖等關鍵指標,使設備在全量程內保持穩定、可追溯與可復現。
人員與資質:由經培訓的計量/維護工程師實施;涉及機內調整的步驟僅限授權人員執行。
環境條件:溫度 20–26 °C、相對濕度 30–60%RH、無凝露;設備預熱 ≥30 min。
必備儀器(近一年內溯源校準):
100:1 或 1000:1 高壓探頭(≥100 MHz 帶寬),配數字示波器(≥200 MHz,采樣 ≥1 GS/s);
6? 位真有效值萬用表(含四線電阻測量);
精密標準電阻負載:20 Ω、50 Ω、200 Ω、400 Ω、600 Ω、1 kΩ(功率裕量≥脈沖峰值);
精密電容/電阻箱或已知偏差的標準件;
絕緣電阻表(500–1000 V 檔)與接地電阻測試器;
塞尺/量塊用于電極間距抽檢(0.1/0.2/0.4 cm);
溫濕度計、靜電防護用品、絕緣墊與護目鏡。
高壓安全:
操作區設“高壓作業”標識,單人放電、雙人監護;
僅在閉合ShockPod 且安全聯鎖有效時觸發;
每次放電后確認設備完成自動泄放,殘壓<30 V 再接觸負載;
禁止帶電更換負載/探頭。
電壓準確度:各量程點(典型 100/250/500/1000/2000/3000 V)示值誤差≤±2% 或設備技術條件規定值。
時間基準/脈沖寬度:誤差≤±1% 或 ≤±0.05 ms(取較大);
指數衰減時間常數 τ:與設定/名義值偏差≤±5%;
方波平頂跌落(droop):在指定負載與脈寬內≤5–10%(依內部規范);
過沖/振鈴:峰-峰不超過幅值的10%(同端接測量);
輸出重復性:同條件連續10次脈沖,峰值電壓與脈寬變異系數(CV)≤2%;
并聯電阻檔位:實測值與標稱誤差≤±2%;
自動泄放:10 s 內殘壓降至安全閾以下;
聯鎖/門控:未閉合腔體、無杯具或異常接觸時禁止觸發。
目視與自檢:線纜、接地、聯鎖與自檢通過;
低壓點功能試放(如 100–200 V),在 400 Ω 負載上觸發,核對顯示與波形是否一致;
自動泄放驗證:放電后 10 s 內示波觀察殘壓衰減至安全線。
電壓線性:在 0.4 cm 等效間距條件下,以 50/200/400/600/1000 Ω 負載分別測 100–1000 V 每檔 3–5 點,記錄示值/實測比;
時間基準:選 1/5/10/20 ms 方波,示波測平頂寬度;
指數衰減 τ:以 200 Ω 負載、設定小電容檔,采樣電壓曲線,計算 τ;
重復性:同一設置連發 10 次,統計峰值與寬度 CV;
聯鎖與泄放:模擬異常開蓋/未插杯,確認禁止觸發;泄放時間記錄。
全量程電壓校準:100–3000 V 覆蓋 7–9 個點,配高壓探頭直接測端電壓;
方波完整性:在 0.05/1/5/10/50/100 ms 六檔,記錄平頂跌落、上升/下降沿;
指數波能量一致性:不同并聯電阻檔位與兩三個電容檔,采曲線算 τ 并由 E=12CV02E=\tfrac{1}{2}CV_0^2E=21CV02 估投送能量,核對設定一致性;
并聯電阻檔校驗:四線法直測,或由 τ=R_eq·C 反推 R_eq 與設定 R 并比對;
輸出阻抗/源特性(工程法):改變負載阻值,繪制 V_out-I 曲線線性區斜率,估源阻抗;
電極腔與杯具幾何抽檢:塞尺比對 0.1/0.2/0.4 cm 間距,接觸電阻與清潔度檢查;
安全項目:絕緣電阻、接地電阻、泄放回路功能;
不確定度評估:合成各項測量不確定度,給出校準證書與建議復檢周期(12 個月)。
連接:主機→ShockPod→精密電阻負載→高壓探頭→示波器。
步驟:分別輸出預設電壓(如 100/250/500/1000/2000/3000 V),記錄示波峰值 VmV_mVm 與儀器顯示 VsV_sVs。
判定:∣Vm?Vs∣/Vs≤2%|V_m-V_s|/V_s \le 2\%∣Vm?Vs∣/Vs≤2%;擬合 VmV_mVm-設定 V 的直線,線性相關系數≥0.999。
注意:探頭衰減比與帶寬補償,探頭接地盡可能短,避免寄生導致的過沖判讀偏差。
方法:在 200 Ω 與 400 Ω 兩個負載上,設定 0.05–100 ms 多檔脈寬;
測量:示波器以 10–90% 觸發門限測上升/下降沿;平頂期間采樣起止幅值,計算 droop%;
合格:脈寬誤差≤±1% 或 ±0.05 ms;droop 在規范允許范圍內。
原理:指數波 V(t)=V0e?t/RCV(t)=V_0 e^{-t/RC}V(t)=V0e?t/RC,對數線性化:ln?V0V(t)=tRC\ln\frac{V_0}{V(t)}=\frac{t}{RC}lnV(t)V0=RCt。
步驟:取 t=τ 處采樣 V(t)=V0/eV(t)=V_0/eV(t)=V0/e,或用兩點法:
τ=t2?t1ln???(V(t1)/V(t2))\tau=\frac{t_2-t_1}{\ln\!\big(V(t_1)/V(t_2)\big)}τ=ln(V(t1)/V(t2))t2?t1
設置:選定電容檔與并聯電阻檔(如 R=200 Ω,C≈1000 μF 目標 τ≈200 ms;或小 C 得 5–10 ms),多點復核。
判定:與名義 τ 偏差≤±5%。
直測法:四線法測量模塊端子電阻;
反推法:用已知 C,測 τ,得 Req=τ/CR_{eq}=\tau/CReq=τ/C,再減去負載影響估算并聯 R,比較標稱。
泄放:觸發后斷開高壓,示波查看端電壓 10 s 內降至<30 V;
聯鎖:移除杯具或打開腔體,上位機應禁止觸發并報警;多次重復驗證一致性。
方法:固定設置,連續 10 次觸發,記錄 VpeakV_{peak}Vpeak、脈寬與 τ;
統計:計算均值、標準差與 CV%;合格標準 CV≤2%。
為避免真實細胞樣品的電學波動引入不確定度,校準應使用等效負載:
微生物/高場短脈沖:20–200 Ω、體積小、短脈寬;
哺乳動物/方波:200–600 Ω、較長脈寬(5–20 ms);
植物原生質體/長 τ:600–1000 Ω、C 大、低電壓長時間。
若需“貼近應用”的核驗,可用低電導模擬溶液與標準杯具組合復測。
A 類:重復性、示波讀數抖動;
B 類:探頭衰減比誤差、帶寬限制、標準電阻容差、溫度系數、計時基準漂移。
合成不確定度 uc=∑ui2u_c=\sqrt{\sum u_i^2}uc=∑ui2,擴展不確定度 U=k?ucU=k\cdot u_cU=k?uc(k=2)。年度證書給出各測點 U 與判定結果。
若任一項目超差:
復核連接與探頭補償→重復測量;
仍超差則由授權人員在服務菜單內微調電壓/時間系數;
調整后全點復檢;
貼上“合格/有效期”標識,更新電子與紙質記錄。
設備信息:型號/序列號/模塊配置/上次校準日期;
環境條件與預熱時間;
量具清單與證書編號;
各測點:設定值、負載、實測峰值、脈寬、τ、droop、過沖、結論;
安全功能:聯鎖、泄放時間、絕緣/接地;
不確定度表與最終判定;
執行人與復核簽名。
峰值過低/線性差:探頭衰減設置錯誤或源阻偏移→校正探頭、檢查輸出級與連接;
方波平頂下陷過大:等效輸出阻抗偏大或負載過重→核對并聯電阻檔、換負載點檢;
τ 偏差大:設定 C/并聯 R 檔異常或實際電容老化→更換檔位/檢修電容;
過沖振鈴明顯:接地引線過長、寄生電感大→縮短回路、同端接法測量;
自動泄放超時:泄放回路器件老化→停止使用并更換器件;
聯鎖失效:傳感開關或線束問題→立即停機檢修。
將“季度核驗”與“年度計量”結合實驗室質量體系,納入設備檔案與SOP;
對關鍵項目(臨床前研究、GMP 相關)建議每 6 個月復核一次時間基準與電壓線性;
杯具與ShockPod 定期清潔、抽檢間距與接觸電阻,防止幾何與接觸問題帶來系統性誤差;
對新應用場景建立“應用參數-電學指紋”留檔,便于事后追溯。
通過分層次、全量程、可溯源的校準體系,可確保 Gene Pulser Xcell 在指數衰減與方波兩類輸出模式下均保持電壓準確、時間精確、波形穩定與能量一致。配合嚴格的安全驗證、清晰的記錄與不確定度評估,電穿孔參數的設定與復現將具備穩定的計量學基礎,顯著提升實驗成功率與數據可信度。
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